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Electron Nano-Imaging
Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM
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Verlag:
Springer Verlag
Artikel-Nr.:
E4PZKW2
EAN:
9784431565024
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Beschreibung
In this book, the bases of imaging and diffraction in transmission electron microscopy (TEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM) are explained in the style of a textbook. The book focuses on the explanation of electron microscopic...
Spezifikationen
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