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Buch (Softcover): Fachbuch
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Verlag:
Springer Verlag
Artikel-Nr.:
WW28WQD
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Beschreibung
Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect le...
Spezifikationen
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