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Buch (Hardcover): Fachbuch
High-Resolution X-Ray Scattering
From Thin Films to Lateral Nanostructures
Verlag:
Springer Verlag
Artikel-Nr.:
GRR27DD
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Beschreibung
During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, an...
Spezifikationen
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