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Buch (Softcover): Fachbuch
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Instrumentation, Data Analysis and Applications
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Beschreibung
Deutsch. Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschie...
Spezifikationen
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