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Buch (Hardcover): Fachbuch
Scanning Probe Microscopy
Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
Verlag:
Springer Verlag
Artikel-Nr.:
9V78ZW8
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Beschreibung
This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the micro...
Spezifikationen
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