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Autor/-in: José Pineda de Gyvez

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Buch (Softcover): Fachbuch
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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CHF 174.–
2
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Buch (Hardcover): Fachbuch
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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