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Autor/-in: Manoj Sachdev

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Buch (Softcover): Fachbuch
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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2
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Buch (Softcover): Fachbuch
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
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ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
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3
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Buch (Softcover): Fachbuch
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test
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CHF 146.–
4
Buch (Hardcover): Fachbuch
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
-27.2 %
CHF 174.–