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CHF 199.–
Beschreibung
Partial Contents: Reliability Concepts; Device Reliability; Hazard Rates; Monitoring Reliability; Specific Device Information, and more. Appendixes. 60 illustrations.
Spezifikationen
Sprache
- Englisch
Autor
- David J. Klinger
- Yoshinao Nakada
- Maria A. Menendez
Thema
- Informatik: Allgemein
Erscheinungsjahr
- 1999
Erscheinungsland
- USA
Format
- Buch (Hardcover)
Anzahl Seiten
- 226