Characterisation and Control of Defects in Semiconductors

Name: Characterisation and Control of Defects in Semiconductors
SKU: P36130733
Price: 199.00 CHF
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ISBN: 9781785616556

Filip Tuomisto

Verlag:

Institution of Engineering & Technology

Unsere-Artikel-Nr.: P36130733

EAN: 9781785616556

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CHF 199.–

Spezifikationen

Sprache

Englisch

Autor

Filip Tuomisto

Erscheinungsjahr

2019

Format

Buch (Hardcover)

Anzahl Seiten