Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997

Name: Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
SKU: P36373238
Price: 606.00 CHF
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ISBN: 9780750305006

Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997

J. Doneker

Verlag:

Taylor & Francis

Unsere-Artikel-Nr.: P36373238

EAN: 9780750305006

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CHF 810.–

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Spezifikationen

Sprache

Englisch

Autor

J. Doneker

Zielgruppe

Professional

Erscheinungsjahr

1998

Format

Buch (Hardcover)

Anzahl Seiten