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Buch (Hardcover): Fachbuch

Fatigue Testing and Analysis

Theory and Practice

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Yung-Li Lee
▪Richard Hathaway
▪Jwo Pan
Verlag:
Elsevier Inc
Unsere-Artikel-Nr.: P35758067
EAN: 9780750677196
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Zustellung: Mo, 07.09.2026
Versand: Kostenlos
CHF 188.–
Spezifikationen
Sprache
  • Englisch
Autor
  • Yung-Li Lee
  • Richard Hathaway
  • Jwo Pan
Erscheinungsjahr
  • 2004
Format
  • Buch (Hardcover)
Anzahl Seiten
  • 418