Erhältlich:
Nicht auf Lager
Buch (Hardcover): Fachbuch
Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Verlag:
Springer Nature B.V. Unsere-Artikel-Nr.: P36493179
EAN: 9780792390589
Erhältlich:
Nicht auf Lager
Zustellung: Di, 10.11.2026
Versand: Kostenlos
CHF 142.–
Spezifikationen
Sprache
- Englisch
Autor
- Debashis Bhattacharya
- John P. Hayes
Erscheinungsjahr
- 1989
Format
- Buch (Hardcover)
Anzahl Seiten
- 176