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Buch (Softcover): Fachbuch
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
A Physics of Failure Approach
Verlag:
Taylor & Francis Unsere-Artikel-Nr.: P36285343
EAN: 9780367400972
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CHF 76.–
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Spezifikationen
Sprache
- Englisch
Autor
- Pecht Michael
- Lall Pradeep
- Hakim Edward B.
Zielgruppe
- Academic
- Professional
- and Professional Practice & Development
Erscheinungsjahr
- 2019
Format
- Buch (Softcover)
Anzahl Seiten
- 336