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Buch (Hardcover): Fachbuch
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
A Physics of Failure Approach
Verlag:
Taylor & Francis Unsere-Artikel-Nr.: P36588557
EAN: 9780849394508
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Versand: Kostenlos
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CHF 236.–
CHF 184.–
Spezifikationen
Sprache
- Englisch
Autor
- Pecht Michael G.
- Lall Pradeep
- Hakim Edward B.
Zielgruppe
- Academic and Professional Practice & Development
Erscheinungsjahr
- 1997
Format
- Buch (Hardcover)
Anzahl Seiten
- 328