Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Deutsch. Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien. Englisch. This book serves as an updated summary on the use of Spectrometric Ellipsometry with its practical usage in probing interfacial properties, electronic structures and quasiparticle properties of different classes of thin-film materials.