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Buch (Softcover): Fachbuch
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Instrumentation, Data Analysis and Applications
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Verlag:
Wiley-VCH Unsere-Artikel-Nr.: N7D5P6N
EAN: 9783527349517
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Beschreibung
Deutsch. Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien. Englisch. This book serves as an updated summary on the use of Spectrometric Ellipsometry with its practical usage in probing interfacial properties, electronic structures and quasiparticle properties of different classes of thin-film materials.
Spezifikationen
Sprache
- Englisch
Autor
- Andrew T. S. Wee
- Xinmao Yin
- Chi Sin Tang
Auflage
- 1
Erscheinungsjahr
- 2022
Format
- Buch (Softcover)
Anzahl Seiten
- 208