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Buch (Softcover): Fachbuch
Ion Beam Techniques for the Analysis of Light Elements in Thin Films, Including Depth Profiling
Verlag:
Mare Nostrum Unsere-Artikel-Nr.: P35335547
EAN: 9789201104045
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Versand: Kostenlos
CHF 35.–
Spezifikationen
Sprache
- Englisch
Autor
- International Atomic Energy Agency
Erscheinungsjahr
- 2004
Format
- Buch (Softcover)
Anzahl Seiten
- 277