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Buch (Softcover): Fachbuch
Kelvin Probe Force Microscopy
From Single Charge Detection to Device Characterization
Verlag:
Springer EN Unsere-Artikel-Nr.: P35149039
EAN: 9783030092986
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CHF 261.–
CHF 189.–
Spezifikationen
Sprache
- Englisch
Autor
- Sascha Sadewasser
- Thilo Glatzel
Zielgruppe
- Research
Erscheinungsjahr
- 2019
Format
- Buch (Softcover)
Anzahl Seiten
- 521