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Buch (Hardcover): Fachbuch
Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
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Verlag:
John Wiley & Sons Unsere-Artikel-Nr.: P35819115
EAN: 9781848219366
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Zustellung: Di, 01.09.2026
Versand: Kostenlos
CHF 204.–
Spezifikationen
Sprache
- Englisch
Autor
- Abdelkhalak El Hami
- Pierre Richard Dahoo
- Philippe Pougnet
Erscheinungsjahr
- 2016
Format
- Buch (Hardcover)
Anzahl Seiten
- 320