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Buch (Hardcover): Fachbuch
Oxide Reliability: A Summary Of Silicon Oxide Wearout, Breakdown, And Reliability
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Verlag:
World Scientific Publishing Unsere-Artikel-Nr.: P35900985
EAN: 9789810248420
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Zustellung: Mi, 09.09.2026
Versand: Kostenlos
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CHF 176.–
CHF 149.–
Spezifikationen
Sprache
- Englisch
Autor
- David J Dumin
Erscheinungsjahr
- 2002
Format
- Buch (Hardcover)