Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability

Name: Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability
SKU: P37158834
Price: 169.00 CHF
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ISBN: 9789811661198

Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact

Souvik Mahapatra

Verlag:

Springer

Unsere-Artikel-Nr.: P37158834

EAN: 9789811661198

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