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Buch (Hardcover): Fachbuch
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Verlag:
Springer EN Unsere-Artikel-Nr.: P34992718
EAN: 9781493966745
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Versand: Kostenlos
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CHF 146.–
CHF 110.–
Spezifikationen
Sprache
- Englisch
Autor
- Joseph I. Goldstein
- Dale E. Newbury
- Joseph R. Michael
- Nicholas W.M. Ritchie
- John Henry J. Scott
- David C. Joy
Zielgruppe
- Graduate
Erscheinungsjahr
- 2017
Format
- Buch (Hardcover)
Anzahl Seiten
- 550