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Buch (Hardcover): Fachbuch
Scanning Probe Microscopy
Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
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Verlag:
Springer Verlag Unsere-Artikel-Nr.: 9V78ZW8
EAN: 9783662452394
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Beschreibung
This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.
Spezifikationen
Sprache
- Englisch
Autor
- Bert Voigtländer
Thema
- Physik: Flüssigkeit & Festkörper
- Technologie: Nanotechnologie
- Elektronik: Allgemein
Kollektion
- NanoScience and Technology
Zielgruppe
- Research
Erscheinungsjahr
- 2015
Erscheinungsland
- Deutschland
Format
- Buch (Hardcover)
Anzahl Seiten
- 382