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Buch (Hardcover): Fachbuch
Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
Verlag:
Wiley-VCH Unsere-Artikel-Nr.: P36438689
EAN: 9783527310524
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CHF 202.–
CHF 159.–
Spezifikationen
Sprache
- Englisch
Autor
- Mario Birkholz
Erscheinungsjahr
- 2005
Format
- Buch (Hardcover)
Anzahl Seiten
- 378