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Dino Lite Handmikroskop WF7915MZTL
Mikroskop mit hervorragender Bildqualität und Farbwiedergabe, grossem Arbeitsabstand und anderen Funktionen
- Vergrösserung 140 ×
- Funktionen Detailreiche und vielseitige Bildanalysen, Messen
- Anwendungsbereich Industrie
- Typ Mikroskop
2 Jahre Garantie
- Hersteller
- Dino Lite
- Hersteller-Artikel-Nr.
- WF7915MZTL
- Unsere Artikel-Nr.
- DMAQTZTMC
- EAN
- 4711203830573
Beschreibung
Mikroskop mit hervorragender Bildqualität und Farbwiedergabe, grossem Arbeitsabstand und anderen Funktionen
Als Teil der Long Working Distance (LWD)-Serie eignet sich das WF7915MZTL mit seinem grossen Arbeitsabstand und dem 10-140-fachen Vergrösserungsbereich für eine Vielzahl von Anwendungen, bei denen ein grösserer Abstand zum Objekt oder ein breiteres Sichtfeld erforderlich ist. Mit der Funktion Erweiterter Dynamikbereich (EDR) können Details in dunkleren oder helleren Bereichen des Objekts durch Stapeln von Bildern mit unterschiedlichen Belichtungsstufen sichtbar gemacht werden. Die Funktion Erweiterte Tiefenschärfe (EDOF) stapelt automatisch Bilder mit unterschiedlichen Schärfegraden, um die Tiefenschärfe auf rauen oder unebenen Oberflächen zu verbessern. Die AMR-Funktion ist besonders wichtig, wenn die Messfunktionen häufig verwendet werden. Der eingebaute Polarisationsfilter macht dieses Modell ideal für die Arbeit mit glänzenden oder reflektierenden Objekten wie Metall, Kunststoff, Glas, Schmuck, Elektronik usw.
- Ideal für die Arbeit mit reflektierenden Objekten wie Metall, Kunststoff, Glas, Schmuck, Elektronik, usw.
- 5-Megapixel Edgesensor
- 10-140x Vergrösserung
- Erweiterte Schärfentiefe (EDOF), Erweiterter Dynamikumfang (EDR)
- Automatische Vergrösserungsablesefunktion (AMR), Flexible LED-Steuerung (FLC)
- Grosser Arbeitsabstand, einstellbarer Polarisator
Als Teil der Long Working Distance (LWD)-Serie eignet sich das WF7915MZTL mit seinem grossen Arbeitsabstand und dem 10-140-fachen Vergrösserungsbereich für eine Vielzahl von Anwendungen, bei denen ein grösserer Abstand zum Objekt oder ein breiteres Sichtfeld erforderlich ist. Mit der Funktion Erweiterter Dynamikbereich (EDR) können Details in dunkleren oder helleren Bereichen des Objekts durch Stapeln von Bildern mit unterschiedlichen Belichtungsstufen sichtbar gemacht werden. Die Funktion Erweiterte Tiefenschärfe (EDOF) stapelt automatisch Bilder mit unterschiedlichen Schärfegraden, um die Tiefenschärfe auf rauen oder unebenen Oberflächen zu verbessern. Die AMR-Funktion ist besonders wichtig, wenn die Messfunktionen häufig verwendet werden. Der eingebaute Polarisationsfilter macht dieses Modell ideal für die Arbeit mit glänzenden oder reflektierenden Objekten wie Metall, Kunststoff, Glas, Schmuck, Elektronik usw.
Spezifikationen
| Anwendungsbereich | Industrie |
|---|---|
| Auflösung Kamera | 2592 x 1944 |
| Breite | 32 mm |
| Farbe | Aluminium, Silber |
| Funktionen | Detailreiche und vielseitige Bildanalysen, Messen |
| Gewicht | 137 g |
| Kompatible Betriebssysteme | Mac OS X (10.9+), Windows 10, Windows 11, Windows 7, Windows 8 |
| Material | Aluminium |
| Typ | Mikroskop |
| Schnittstellen | USB 2.0 |
| Tiefe | 105 mm |
| Vergrösserung | 140 × |
Lieferumfang
- Mikroskop
- Transporttasche
- Software-CD
- Kalibrierungstarget
- Benutzerhandbuch
- N3C-O- Offene Kappe
- N3C-C- Geschlossene Kappe
- N3C-D- Diffusorkappe
- N3C-E- Verlängerungskappe
- N3C-L- Lange Kappe
- N3C-S- Seitenlichtkappe
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